所有全部產(chǎn)品
- 品牌專(zhuān)區
- 國內品牌專(zhuān)區
- 無(wú)損檢測
-
力學(xué)測試
-
環(huán)境檢測
- 基礎設施建設
-
氣體檢測
-
無(wú)損檢測
- 力學(xué)測試
-
無(wú)損耗材
- 硬度計
-
硬度計
- 色差儀
- 涂裝設備
- 漆膜涂料性能檢測
-
涂裝設備
- 環(huán)境檢測
-
實(shí)驗室設備
- 水分儀/電熱板
-
光學(xué)分析儀器
- 實(shí)驗室設備/天平衡器
- 油品檢測儀器
- 泥漿分析儀器（鉆井液、完井液...
-
量具量?jì)x
- 光學(xué)檢測
-
礦用本安型設備
- 特種設備
-
未分類(lèi)
- 電學(xué)測試
- 建筑測繪
產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
CSK-IA超聲波探傷儀標準試塊 NB/T47013-2015標準工業(yè)探傷試塊
詳情介紹：
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎上改進(jìn)而來(lái)的
主要用途有:
1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點(diǎn)和前沿長(cháng)度;
2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;
3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線(xiàn)的偏離情況;
4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性和動(dòng)態(tài)范圍;
5利用25mm 厚度調整縱波探測范圍和掃描速度;
6利用R50和 R100mm曲面調節橫波探測范圍和掃描速度;
7利 用50、44和40mm 三個(gè)臺階孔測定斜探頭分辨力。
